文章來源 : 廣東優(yōu)科檢測 發(fā)表時間：2024-06-17 瀏覽數(shù)量：
根據(jù)大量使用和試驗結(jié)果表明，元器件的失效呈現(xiàn)出兩邊高，中間低的“浴盆曲線”。因此，為保證由電子元器件組成的產(chǎn)品的可靠性，需要在元器件裝上整機或設(shè)備之前，對元器件進(jìn)行二次篩選，盡可能排除存在問題的元器件，是一件非常必要的工作。
1. 篩選的目的在于剔除早期失效的器件，不應(yīng)影響正常產(chǎn)品的失效率
2. 篩選試驗的設(shè)計不應(yīng)引入新的失效模式
3. 在熟悉產(chǎn)品失效原理，了解各有關(guān)元器件的特性、材料、封裝及制造技術(shù)的前提下，合理安排篩選試驗的順序。
| 檢測類別 | 測試項目 | 方法標(biāo)準(zhǔn) |
| 電測 | 電性能測試 常溫測試/高溫測試/低溫測試 | GJB 33、GJB 63、GJB 65、GJB 1042、GJB 1432、GJB 1648、GJB 2438、GJB 2138、GJB 597 |
| 應(yīng)力老練 | 低溫貯存、高溫貯存、溫度循環(huán)、溫度沖擊、功率老練 | GJB 360、GJB 128、GJB 548、GJB 33、GJB 63、GJB 65、GJB 1042、GJB 1432、GJB 1648、GJB 2438、GJB 2138、GJB 597 |
| 試驗評估 | 密封（粗檢漏、細(xì)檢漏）、粒子碰撞噪聲檢測（PIND）、恒定加速度 | GJB 128、GJB 244、GJB 1214、GJB 733、GJB 264、GJB 1511、GJB 2600、GJB1518、GJB1508、GJB 809、GJB 681等 |
電性能測試
電參數(shù)作為衡量元器件合格與否的重要指標(biāo)，在進(jìn)行篩選時，往往需要反復(fù)對元器件的電參數(shù)進(jìn)行測試以驗證元器件的可靠性。目前，對常見的元器件，在進(jìn)行篩選時，可參考的的測試參數(shù)如下表。
老煉試驗
老煉試驗作為一種加速電子元器件早期失效的手段，常用來篩選出早期失效產(chǎn)品,提高元器件可靠性。具體做法為在較長的時間內(nèi)對元器件連續(xù)施加一定的電應(yīng)力，通過電-熱應(yīng)力的綜合作用來加速元器件內(nèi)部各種物理、化學(xué)反應(yīng)過程，促使元器件內(nèi)部各種潛在缺陷及早暴露，從而達(dá)到剔除早期失效產(chǎn)品的目的。
優(yōu)科元器件篩選實驗室配備專業(yè)老煉試驗設(shè)備，可覆蓋絕大多數(shù)的元器件類型，提供多種老煉條件（反偏、恒功率等），滿足客戶需求。
密封性測試-粗檢漏
針對半導(dǎo)體器件、集成電路、電子產(chǎn)品進(jìn)行細(xì)檢和粗檢。
最大充氣壓力：1MPa（+0.101MPa）
密封性測試-細(xì)檢漏
對完成氦氣填充的器件進(jìn)行泄漏值的定量檢測。
最小的檢測精度為10^-12mg/m3
離心試驗
提供離心加速度以加快設(shè)計缺陷產(chǎn)品的失效速度。
最大離心加速度40000g
PIND（顆粒碰撞噪聲檢測）
用于檢測集成電路、晶體管、電容器、航空/航天等領(lǐng)域的繼電器等電子元器件封裝內(nèi)的多余物松散顆粒。
可提供最大振動加速度：20g
最大沖擊加速度：2000g
優(yōu)科元器件篩選實驗室擁有齊全的元器件篩選、環(huán)境與可靠性試驗檢測能力，可開展包括阻容器件、分立器件、電連接器等產(chǎn)品的檢測篩選與失效分析等工作；可承接部件、整機的環(huán)境與可靠性試驗方案設(shè)計及實施等服務(wù)。
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